基本信息
| 标准名称： | 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 |
| 英文名称： | Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction |
| 中标分类： | 仪器、仪表 >> 物质成分分析仪器与环境监测仪器 >> 电化学、热化学、光学式分析仪器 |
| ICS分类： | 化工技术 >> 分析化学 >> 有关化学分析方 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2007-03-26 |
| 实施日期： | 2007-08-01 |
| 首发日期： | 2006-12-25 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 提出单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 北京科技大学 |
| 起草人： | 柳得橹 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2007-06-01 |
| 页数： | 平装16开 页数：7, 字数：8千字 |
| 计划单号： | 20067042-T-469 |
| 书号： | 155066·1-29497 |
适用范围
本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体厚度的会聚束电子衍射方法。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 仪器 仪表 物质成分分析仪器与环境监测仪器 电化学 热化学 光学式分析仪器 化工技术 分析化学 有关化学分析方